新品直击｜DM8工业版激光共聚焦（二）

近期徕卡显微系统发布了新品Leica DM8荧光共聚焦系统

材料样品的发光特性往往具有较大的波长差异。 面对未知材料、自发荧光样品或多种荧光组分，固定激光谱线和固定检测窗口可能严重限制实验设计。

DM8采用棱镜分光与AOBS，可实现激发谱线的精确调谐。其可调光谱检测范围为410至850 nm，发射检测波段可自由设置，最小检测带宽为5 nm，最多可同时选择8根谱线。窄激发缺口设计有助于减少发射信号损失，为不同激发与检测组合提供更高灵活性。

DM8的WLL白激光器标准连续可调范围为485至685 nm，最多可同时输出8根谱线。系统可选NIR扩展至790 nm，WLL Plus范围为440至790 nm。通过激发与发射光谱扫描，用户可以优化染料选择与接收范围，材料自发荧光光谱扫描也不再受固定激光谱线的限制。

在探测端，DM8搭载的Power HyD S探测器在蓝绿区PDE相较传统PMT提升超过2倍，500 nm典型PDE可达58%，为弱荧光信号保留更多图像细节。更亮的信号意味着更温和的激发条件，也降低了活样品的光损伤风险。

面向多类材料研究场景：这一光谱灵活性直接服务于钙钛矿组分变化导致的发光波长漂移分析、半导体材料体系中带隙差异巨大的多样检测需求、高分子材料中低浓度荧光标记物的追踪，以及石油地质样品中有机物的本征荧光表征。

部分配置信息

• 可调光谱检测范围：410–850 nm

• 发射检测带宽：最小5 nm

• 最多同时选择谱线：8根

• 白激光器范围：485–685 nm（可扩展至790 nm）

• 探测器：Power HyD S，500 nm典型PDE 58%