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PRODUCTS CENTERDM6M材料显微镜是一款面向金属材料失效分析与工程事故根源调查设计的研究级半自动智能正置系统。在失效分析中,显微组织信息是最关键的“证据链“——因为绝大多数金属材料失效都不是瞬间发生,而是经历了从微观缺陷萌生、扩展到宏观断裂的演化过程。Leica DM6M正是为应对这一挑战而设计。
更新时间:2026-10-22
产品型号:Leica DM6M
浏览量:97
DM750M是一台理想地适用于基础材料应用的工业实验室或材料科学的材料显微镜。它的多用途载物台和反射光系统适合广泛的样品来获取高品质图像。 机械载物台可以同时适配于透射光和反射光的应用。它可以装配多种样品夹来固定不通直径尺寸的试样。 独特的LED 反射光照明提供了明场,偏振光和倾斜光照明模式。这可以让客户在同一台显微镜上可以观察多种不同的样品。
更新时间:2026-10-22
产品型号:DM750M
浏览量:93
在日常的显微镜操作中体验到更高的效率和舒适度。Visoria M 材料显微镜适用于金属、电子和聚合物行业以及材料科学实验室。 使用编码的功能、优化的光强设置及其他显微镜功能可以提高您的工作流程效率。此外,显微镜的人体工学设计让您能更加舒适地工作,大限度减少劳损。
更新时间:2026-10-22
产品型号:Visoria M
浏览量:92
徕卡研究级智能型半导体材料显微镜DM8000M提供了全新的光学及机械设计,可实现8英寸及以下的半导体样品检查,配合倾斜紫外光(OUV, UV )照明,可提高分辨能力。 使用领域:微电子及非金属材料领域可满足半导体材料/器件、金属样品、陶瓷样品表面观察、测量、3D形貌观察等功能。
更新时间:2026-10-22
产品型号:DM8000
浏览量:88
徕卡研究级智能型半导体材料显微镜DM12000M提供了全新的光学及机械设计,可实现8英寸及以下的半导体样品检查,配合倾斜紫外光(OUV, UV )照明,可提高分辨能力。
更新时间:2026-10-22
产品型号:DM12000
浏览量:82
LeicaDM4M是一款面向材料显微分析与工业质量控制设计的半导体显微镜系统,。相较于通用显微观察设备,它更强调稳定成像能力、组织识别能力以及与数字化分析系统的结合能力,能够帮助工程师在各个材料体系中快速识别组织状态并进行定量分析。
更新时间:2026-10-22
产品型号:DM4M
浏览量:96

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