徕卡3D测量显微镜产品介绍

全面了解3D表面测量学

在工业和研究中，高精度表面分析发挥着至关重要的作用，它可以帮助确保材料和组件实现令人满意的性能，但同时也面临着诸多挑战:表面结构错综复杂，高倾斜度区域要求横向分辨率达到数微米，而关键性微观峰谷要求垂直分析达到亚纳米级。虽然共聚焦显微技术可以提供高横向分辨率，但要实现亚纳米级垂直分辨率，则需要干涉测量技术。

因此，我们将这两种测量技术相结合，推出了多功能高速30表面测量系统LeicaDCM8--为您的所有测量观察任务提供一站式解决方案。

优势概览:

功能多样，精确性高-满足您对于对面测量的需求

通过高清(HD)共聚焦显微技术实现清晰的横向分辨率、斜率求解和成像

通过高清干涉测量技术实现高达0.1nm的清晰的纵向分辨率

通过明场和暗场显微镜方便地实现图像摄取

四盏RGB高清彩色成像LED，应用范围更广

可使用三种方法测量厚薄不同的薄膜

配置和物镜适用于您的样品

快速、简单、耐用省时省力,节省资金，实现满意结果

无需准备样品或切换仪器

数字高清共聚焦扫描快速、可靠

通过大视场和形貌拼接快速摄取大表面

直观的2D和30软件，适用于数据采集和分析