公司动态_第(2)页－北京世润科学仪器有限公司

共聚焦干涉显微镜在超光滑表面粗糙度测量中的应用
2026-06-12 超光滑表面通常指粗糙度低于1纳米的表面，广泛存在于半导体晶圆、光学透镜、精密模具等制造领域。这类表面的微观形貌直接影响器件的光学透过率、摩擦磨损性能及使用寿命，因此对其粗糙度的精确测量至关重要。传统触针式轮廓仪因探针曲率半径限制，难以捕捉亚纳米级起伏，且接触测量易造成表面损伤；原子力显微镜虽分辨率高，但扫描速度慢、视场小，不适用于大尺寸样品的快速检测。共聚焦干涉显微镜作为一种非接触式光学测量技术，凭借其高纵向分辨率与大视场成像能力，逐渐成为超光滑表面粗糙度测量的主流方案。该技...
SpecMetrix 无损涂层测厚，为PCB与半导体制造提供新思路
2026-05-29 五月，工业物理先后亮相重庆与合肥两场半导体行业展会，携SYSTECHEC913在线微量氧分析仪与SpecMetrix亚微米级无损涂层厚度测量系统，与来自西南及华东区域的半导体上下游企业、设备供应商、PCB制造商、电子材料客户及相关科研检测机构进行了深入交流。在重庆与合肥的展会现场，工业物理团队围绕半导体制造中的过程监控、质量保证与精密测量需求，与客户展开了许多有价值的讨论。尤其是现场展示的SpecMetrix样机，凭借直观的测量方式、非接触式测试特点以及对实际样品的快速响应，...
三维光学轮廓仪的测量原理与表面形貌参数解析
2026-05-20 三维光学轮廓仪是一种非接触式表面形貌测量仪器，广泛应用于半导体、精密机械和生物医学领域。它利用光学干涉或共焦原理，快速获取样品表面的三维高度信息，垂直分辨率可达亚纳米级别。与触针式轮廓仪相比，该仪器不会损伤样品表面，且测量速度快，一次扫描即可获得整个视场的三维数据。本文将深入解析三维光学轮廓仪的核心测量原理，并介绍常用表面形貌参数的工程含义。其主流测量技术是白光干涉法。其光路结构基于迈克尔逊干涉仪：白光光源经分光棱镜分为两束，一束照射到样品表面反射回来，另一束照射到参考镜反射...
惠然科技F6000场发射扫描电镜荣膺无锡市（套）重大装备
2026-05-15 近日，无锡市工业和信息化局公布2025年无锡市重大装备（套）认定名单，惠然科技自主研发的F6000场发射扫描电镜凭借硬核实力成功入选，斩获这一重量级荣誉！2025年无锡市（套）重大装备拟定名单（部分）什么是无锡市（套）重大装备？无锡市（套）重大装备认定标准严格，要求入选产品必须在自主研发方面实现重大突破，拥有自主知识产权，整机性能或核心技术指标达到国际同类装备的先进水平，是衡量企业研发实力的重要标尺。F6000场发射扫描电镜是惠然科技深耕电子显微领域的核心成果。该产品突破了多...
电动体视显微镜的自动对焦与图像拼接技术详解
2026-05-15 电动体视显微镜是现代显微检测领域的重要工具，它在电子工业、生物研究和材料科学中发挥着不可替代的作用。与传统手动体视显微镜不同，电动体视显微镜通过内置的步进电机和控制系统，实现了焦距调节、载物台移动和变倍操作的自动化。这种自动化设计不仅提高了检测效率，还大幅降低了操作人员的工作强度。本文将重点介绍自动对焦原理和图像拼接技术，帮助用户更好地掌握这一精密仪器的使用方法。其核心优势在于其电动驱动系统。该系统通常由三个独立电机组成，分别控制Z轴聚焦、X轴水平移动和Y轴垂直移动。操作时，...
聚力争先载誉前行！惠然科技获 “高质量发展突出贡献集体” 荣誉称号！
2026-04-30 近日，中共滨湖区委、滨湖区人民政府正式发布了《关于表彰2025年度高质量发展突出贡献集体和个人的决定》（锡滨委发〔2026〕10号），惠然科技凭借扎实业绩、创新突破与责任担当，成功获评2025年度滨湖区“高质量发展突出贡献集体”！“先进集体”认定，是对企业综合实力、发展质效与社会责任的认可，标志着企业在区域高质量发展中树立了榜样、走在了前列。凭借在电子束与电子光学领域的深厚积累，惠然科技在微纳尺度观测与精密分析领域形成显著技术优势，产品性能与稳定性达到行业先进水平，是科研和制...
展会邀请 | 惠然邀您参加2026年华东地区电子显微学学术交流会
2026-04-24 展会邀请|惠然邀您参加2026年华东地区电子显微学学术交流会本次会议汇聚电子显微镜领域国内外著名专家与行业技术骨干，聚焦电子显微分析、磁共振技术的最新研究成果与学科未来发展趋势，旨在搭建高水平技术交流平台，促进实验室间资源共享，推动青岛及周边地区电子显微分析与磁共振应用研究向更高层次迈进。惠然科技敬邀各位拨冗出席，共探显微视界，共研磁共振前沿，共促技术创新与成果转化，携手推动区域科研水平迈向新高度。北京世润科学仪器有限公司为惠然科技有限公司代理商。
干涉显微镜对光学透镜中心厚度测量的不确定度分析
2026-04-20 在精密光学系统中，透镜的中心厚度直接影响光学系统的焦距、像差校正及装配定位精度。干涉显微镜利用光干涉原理，能够实现亚微米级的非接触厚度测量，尤其适用于软质或易损光学材料。然而，任何测量过程均存在不确定度来源，对干涉显微镜测量透镜中心厚度的结果进行系统的不确定度分析，是保证测量数据可靠性的必要步骤。测量原理简述如下：干涉显微镜配备有低相干光源，光路分为参考臂和样品臂。测量光经透镜上表面反射后与参考光发生干涉，形成零光程差干涉峰；同样，经下表面反射的光形成第二个干涉峰。两峰之间的...

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