研究级智能型12寸半导体检查显微镜DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 提升了分辨率，提高了检查12英寸(300毫米)硅片的效率，可配合晶圆搬运及识别系统，实现自动检查。

电动体视显微镜可实现高需求的观测任务，高放大倍率，高分辨率适用于材料、机械方向的科学研究，及生产制造工艺的装配研发使用。 M205C/A系以左右双光束路径：右光束具有高分辨率的图像，而左光束提供了高景深的图像。大脑会自动收集来自两术光源的有效信息，并在脑中生成一个具备高分辨细节和高景深的图像。

智能型材料显微镜可实现高需求的观测任务，高放大倍率，高分辨率适用于材料、机械方向的科学研究，及生产制造工艺的装配研发使用。 M205C/A系以左右双光束路径：右光束具有高分辨率的图像，而左光束提供了高景深的图像。大脑会自动收集来自两术光源的有效信息，并在脑中生成一个具备高分辨细节和高景深的图像。

徕卡正置电动金相显微镜DM6M，全自动数字显微镜系列为用户提供了很多的解决方案，其中凸出点是帮助用户简化显微镜的操作，使显微镜使用简单，准确，得心应手。智能化的设计帮助您以简单的操作完成复杂的调节程序，实现多种多样的研究及诊断。

研究级偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性的物质进行研究鉴定的仪器, 可用于单偏光观察，正交偏光观察，锥光等观察方式进行晶体性质鉴定。

研究级显微镜提供了全新的光学及机械设计，可实现8英寸及以下的半导体样品检查，配合倾斜紫外光(OUV, UV )照明，可提高分辨能力。 使用领域：微电子及非金属材料领域可满足半导体材料/器件、金属样品、陶瓷样品表面观察、测量、3D形貌观察等功能。