产品简介

SENSOFAR 大视野光学轮廓仪S wide是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。

SENSOFAR 大视野光学轮廓仪S wide 

SENSOFAR 大视野光学轮廓仪S wide是一款专门针对大尺寸样品检测需求打造的专用测量系统。该设备适用于对大样品区域开展快速且精准的测量工作，其能够覆盖的测量面积高达 300×300 mm。与此同时，这款轮廓仪还具备了集成数字显微镜的高分辨率测量仪器所拥有的全部优势与特性。它搭载了便捷高效的一键式采集功能，操作方式十分简便，极易上手使用。

一、应用领域：大面积 3D 光学测量系统

制造业

考古学与古生物学

消费类电子产品

医疗设备

模塑

光学

钟表业

二、产品优势

1. 这款设备具备亚微米级别的高度可重复性表现，该优异的测量稳定性可延伸覆盖至整个测量区域的每一处。

2. 这款 SENSOFAR 大视野光学轮廓仪S wide 在高度测量环节具备高效便捷的优势，无需额外执行 Z 轴方向的扫描操作，就能顺畅完成单次测量流程，其单次测量可覆盖的高度值可达 40mm。

3. 这款设备配备了双侧远心镜头，该镜头拥有极低的场失真特性，能够为各类样品的尺寸与轮廓检测工作，提供精准无误的测量数据支持。

4.可追溯性：该设备在可追溯性方面，严格采用国际通用的 ISO 标准进行规范与执行。

5. 该设备在与 3D CAD 模型的形状偏差检测方面具备出色能力，能够精准比对实际样品测量结果与 3D CAD 模型之间的形状差异，同时可提供详尽的几何差异分析及专业的公差测量服务，为产品质量校验与精度把控提供有力支撑。

6. 表面纹理测量仪器的校准

我们旗下的所有测量系统，均经过精心研发与精密制造，始终致力于为用户提供精准可靠、具备完整可追溯性的专业测量服务。同时，系统严格遵循 ISO 25178 标准第 7 部分的相关指南要求，采用符合规范的可追溯校准标准开展全面校准工作，校准范围覆盖 Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度等关键测量参数，从源头确保每一组测量数据的精准性与合规性。