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更新时间:2026-08-26
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SpecMetrix® 系统将先进的光学技术带入生产线,实现精密涂层测厚。与传统测厚仪器相比,SpecMetrix 能测量亚微米级薄膜厚度。系统由专有软件驱动,具备坚固耐用的设计,能够适应各种制造环境,在线实时提供湿膜或干膜的涂层及薄膜层厚度数据,确保即时质量监控。
想了解更多技术原理及节省成本的潜力?点击此处,了解我们的革命性SpecMetrix涂层测厚系统。
SpecMetrix 系统为各种薄膜及卷材应用提供即时、可操作的数据,帮助制造及质检团队实现更精准的工艺控制与质量保障。操作人员可实时获得涂层质量反馈,管理层也能不依赖人工直接获取质量数据,极大节省时间与人力成本。
全球包装、特种材料、太阳能控制、柔性电子及透明导电膜市场的行业均高度认可 SpecMetrix 产品线,其投资回报期平均仅需6至9个月。
单层及双层
硅胶涂层
胶粘剂
紫外线硬化涂层
阻隔涂层
面漆
抗刮涂层
其他功能性涂层
针对在线测量,系统提供固定探头与扫描系统配置,满足大多数质检需求。先进的光纤探头可实现每秒超100次测量,最高线速达1800英尺/分钟。客户可选择单探头或多探头安装,实现对卷材上下表面的厚度测量。
支持单一及双向扫描配置,轻松实现横向与纵向的卷材质量分析。生产团队可灵活选择适合生产需求的测量模式,全面掌控上下表面涂层的均匀性,显著提升质量控制水平。
测量结果通过易用的触控界面显示,且可轻松导出至所有主流数据采集与企业 SPC 系统,方便后续分析与记录。
我们设计的解决方案旨在简化生产线的设定、切换及检验时间。SpecMetrix 系统为工厂提供高精度涂层质检数据,帮助降低浪费、降低产品成本,同时提升工厂盈利能力。
SpecMetrix 在线测量系统是当前市场上灵活、高效且用户友好的非接触式涂层厚度测量解决方案。
欢迎联系我们,了解更多SpecMetrix产品信息与定制解决方案。我们的专业团队期待为您的质量保证提供支持!

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